• <menu id="euwmq"><strong id="euwmq"></strong></menu>
  • 薄膜測量

    薄膜測量

    薄膜測量系統是基于白光干涉的原理來確定光學薄膜的厚度。白光干涉圖樣通過數學函數被計算出薄膜厚度。對于單層膜來說,如果已知薄膜介質的n和k值就可以計算出它的物理厚度。 AvaSoft-Thinfilm應用軟件內包含有一個大部分常用材料和膜層n和k值的內置數據庫。 AvaSoft-Thinfilm系統可以測量的膜層厚度從10 nm到50 um,分辨率可達1 nm。 薄膜測量應用于半導體晶片生產工業,此時需要監控等離子刻蝕和沉積加工過程。還可以用于其它需要測量在金屬和玻璃基底上鍍制透明膜層的領域。其他領域中,金屬表面的透明涂層和玻璃襯底也需要嚴格測量。 AvaSoft-Thinfilm應用軟件能夠實時監控膜層厚度,并且可以與其他AvaSoft應用軟件如XLS輸出到Excel軟件和過程監控軟件一起使用。 薄膜測量的典型裝置如圖所示。




    上一篇:吸光度測量 下一篇:輻射/發光
    精品国产亚洲第一区二区 预级少妇| n0338在线观看| se影院| 中岛知子下海作品下载| 黄色强奸小说| 手机av天堂电影在线| 2018亚洲免费| Av电影天堂网| 花野真衣在线看天长网| 日女女优电影在线| 亚洲免费图片成人| 谁能给一个黄色网站| 影音先锋色天堂资源| 艳情400| 欧美日韩2018伦理女| AV电影天堂2018| 最新在线色图| rh345日韩| 欧美图片2000年| 小玛泽利亚αⅴ| 国产亚洲套图|